API 6D, API 594 Flange Wafer Cék klep
Rentang produk
Ukuran: NPS 1/2 nepi ka NPS 24 (DN15 nepi ka DN600)
Rentang tekanan: Kelas 150 nepi ka Kelas 2500
Sambungan tungtung: RF, RTJ
Bahan
Casting (A216 WCB, WC6, WC9, A350 LCB, A351 CF8, CF8M, CF3, CF3M, A995 4A, A995 5A, A995 6A), alloy 20, Monel, Inconel, Hastelloy
Standar
| Desain & pabrik | API 6D, API 594 |
| Pahareup-hareup | API 594, ASME B16.10 |
| Tungtung Sambungan | Flange Ends ka ASME B16.5, ASME B16.47, MSS SP-44 (NPS 22 Ngan) |
| - Stop kontak Las Ends ka ASME B16.11 | |
| - Butt Weld Ends ka ASME B16.25 | |
| - Screwed tungtung ka ANSI / ASME B1.20.1 | |
| Test & inspeksi | API 598 |
| Ogé sadia per | NACE MR-0175, NACE MR-0103, ISO 15848 |
| Lain | PMI, UT, RT, PT, MT |
Fitur Desain
Ukuran 1.Small, syarat spasi instalasi low
2.Rapid muka jeung nutup, Peta sénsitip
3.Spring dimuat design disc, panutupanana dijamin
4.Soft design sealing bisa dipilih
5.The pin diwangun-di struktur, euweuh leakage
produk patali
-
API 594 Wafer, Lug jeung Flanged Cék klep
Ukuran Range Produk: NPS 2 ka NPS 48 Rentang Tekanan: Kelas 150 ka Kelas 2500 Sambungan Tungtung: Wafer, RF, FF, RTJ Bahan Casting: Beusi tuang, Beusi ulet, A216 WCB, A351 CF3, CF8, CF3M, CF8M, A995 4A , 5A, A352 LCB, LCC, LC2, Monel, Inconel, Hastelloy, UB6, Perunggu, C95800 Standar Desain & pabrik API594 raray-to-beungeut ASME B16.10, EN 558-1 Tungtung Connection ASME B16.5, ASME B16. 47, MSS SP-44 (NPS 22 Ngan) Test & inspeksi API 598 Desain aman seuneu / Ogé sadia per NACE ...
-
API 594 Lugged Wafer Cék klep
API 594 Lugged Wafer Cék Klep Ukuran Range Produk: NPS 1/2 mun NPS 24 (DN15 mun DN600) Tekanan Range: Kelas 800, Kelas 150 nepi Kelas 2500 Sambungan tungtung: Lugged, Wafer Lugged Lugged Wafer Cék klep-Spésifikasi Standar Desain: API 594 , API 6D Nyanghareupan standar: ANSI, API 594 , API 6D , ANSI B 16.10 Tungtung Connection: Wafer, Lug, Lug padet, ganda Flanged Rentang Ukuran: 2''~ 48''(DN50~DN1200) Tekanan Rating of Klep: 150LB 300LB 600LB 900LB Awak & Disc Bahan: ASTM A 126 GR.B (Beusi tuang...
